为营造“创和谐，比技术”的文化氛围，金属研究所分析测试部于2011年7月15日举办了青年技术交流报告会。近50名职工出席了会议，所长助理孙超研究员应邀参加了会议。报告会上，青年职工代表廉德良、李辉、叶威、郭莉莉、邹智敏、刘畅、张滨分别作了“X射线无损检测技术介绍及应用”、“X射线荧光光谱分析应用”等报告。报告内容广泛，各有侧重，既有检测技术与设备原理的介绍、实际工作中积累经验的交流、技术发展方向展望等方面的内容，还有对测试工作与测试技术的切身体会，展现了分析测试部青年人的蓬勃朝气。与会人员对感兴趣的问题进行了热烈的讨论。最后，孙超助理为全体报告人颁发了纪念品并发表讲话，对此次会议的成功举办以及青年职工展示出的良好风貌给予充分肯定，同时希望在将来的工作中更注重将测试技术的发展与所内科研工作的新需求进行深层次的结合。